一种多工位芯片测试夹具 - 佰腾网专利查询 - 全球专利搜索领导品牌

本实用新型公开了一种多工位芯片测试夹具，包括测试主板，测试主板上设有测试触点；主体框架设置在测试主板的上方，且主体框架的下表面上开有容纳槽，容纳槽的上方设有与其贯穿相通限位孔；测试针座组件设置在容纳槽内，并与测试主板上的测试触点导通；压盖通过下压组件可上下移动的设置在主体框架的上方，且压盖上指向主体框架一侧开有凹槽；多个芯片压头设于凹槽内，且芯片压头与限位孔上下对应设置，芯片压头指向限位孔的一侧开有与限位孔相通的通气槽，本实用新型可以一次性对多个芯片进行同步检测，测试效率相对较高，同时在芯片压头处设置与放置芯片的限位孔相通的通气槽，确保每个芯片测试时所处的温况相同，测试简单方便。 - 佰腾网专利查询 - 全球专利搜索领导品牌